Echtzeit-Detektion individueller Spots mit dem Nano-Plotter:

Mit einer Probenahme können die piezoelektrischen drop-on-demand GeSiM-Pipetten hunderte identische Spots auf beliebigen Targets deponieren. Allerdings unterliegen die pipettierbaren Flüssigkeiten physikalischen Grenzen, und die Zuverlässigkeit des Prozesses nimmt ab, wenn diese Grenzen erreicht werden.

Jeder Nano-Plotter ist mit einer stroboskopischen Funktionskontrolle ausgestattet, welche unmittelbar vor sowie nach dem Spotvorgang für jede Probe die Funktion der Pipetten überprüft.

Mit schwierigen Proben und bei strengen regulatorischen Anforderungen kann eine Erweiterung der Kamera-Kontrolle für jeden einzelnen Spot auf den Targets interessant werden.

GeSiM bietet nun für den Nano-Plotter die Echtzeit-Detektion einzelner Spots an, inklusive einer automatischen Fehlerkorrektur. Diese Echtzeit-Spotdetektion basiert auf einem hintergrundbeleuchteten Objekttray, in Kombination mit einer leistungsstarken Kamera.

Es erfolgt der Nachweis des flüssigen Tropfens vor der Ausbildung eines trockenen Spots. Dabei wird nicht nur die Existenz des Spots überprüft, auch Artefakte wie Satellitentropfen können in gewissem Umfang detektiert werden. Kleinste Tropfen (Pico-Tip) können bereits zuverlässig erkannt werden. Auch die Art der Probenflüssigkeit spielt keine Rolle.

Die Spotdetektion funktioniert derzeit nur bei optisch transparenten Targets, z.B. Glasslides, Kunststoff-Chips, NC-Membranen oder Slides mit NC-Pads.

Eine Nachrüstung Ihres Nano-Plotter ist möglich, bitte wenden Sie sich dazu an uns.

 

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